上海仪电物光SGW X-4显微熔点仪 熔点仪


上海仪电物光SGW X-4显微熔点仪

【产品特点】

仪器采用显微镜观察方法,具有二种测试模式,既可用(毛细管法)测定,又可用(载玻片-盖玻片法)测量,测试样品面广。。工作台选用(热台法)测定,保证了测量精度稳定性、重复性。特制的防风罩,减少了环境对测试结果的影响。显微熔点仪是作为教学仪器的理想地选择。

参数规格 熔点范围 室温~320℃ 测量方法 目视 测量模式 毛细管法、热台法 重复性 ≤200℃±1℃>200±2℃ 显示低至值 1℃ 观察方式 单目显微镜 放大镜倍数 40× 防风罩 电源 220V±22V,50Hz±1Hz 仪器尺寸 30mm×22mm×44mm 仪器净重 3kg

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